发布时间：
2025
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能测很多半导体分立器件功率器件静态参数以及IV曲线扫描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手、高压源1400V（选配2KV/3.5KV/6.5KV），高流源40A（选配100A,200A,500A,1500A）栅极电压电流20V（选配40V/100V）分辨率最高至1.5uV/1.5pA/100fA，精度最高可至0.1%。